Центр коллективного пользования высокоточными методами и средствами оптико-физических измерений

ckp-1 ckp-2
 
  Направление деятельности Руководитель

Центр коллективного пользования высокоточными методами и средствами оптико-физических измерений (ЦКП ВНИИОФИ) предназначен для решения научных задач, определенных Приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.

CKP

Перейти на официальный сайт Центра коллективного пользования ВНИИОФИ

Руководитель Центра
Заместитель директора
ФГУП ВНИИОФИ
Бормашов Виталий Сергеевич

zolotarevsky

convert1

Новости

14 марта 2011 года руководитель федерального агентства по техническому регулированию Г.И.Элькин подписал акт о приеме в эксплуалацию инструментального и методического комплекса по метрологическому обеспечению и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

История создания

Центр коллективного пользования высокоточными методами и средствами оптико-физических измерений (ЦКП ВНИИОФИ) образован в 2003 году и предназначен для аттестации испытательного оборудования, повышения эффективности использования имеющихся во ВНИИОФИ, создаваемых и приобретаемых эталонных средств измерений, а также аналитического, измерительного, диагностического, аттестованного испытательного оборудования и другого оборудования (далее именуется – научное оборудование), необходимого для решения научных задач, определенных Приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.

В 2008 году ЦКП включился в работы по метрологическому обеспечению и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

В 2010 году в ЦКП было введено аттестованное испытательное оборудование:

  • метрологический комплекс для измерения параметров волоконно-оптических систем со спектральным уплотнением передаваемой информации
  • комплексная метрологическая установка для исследований с высокой точностью, аттестации и сертификации полупроводниковых излучателей (светодиодов)
  • метрологическая установка для обеспечения единства измерений характеристик солнечных батарей
  • метрологическая установка для измерения величин поверхностной плотности теплового потока (ИК излучения)
Основные научные направления и тематика научных исследований
  • Спектрофотометрия, спектрорадиометрия, в том числе лазерная, колориметрия
  • Рефрактометрия и поляриметрия
  • Измерения параметров волоконно-оптических линий связи
  • Измерения оптических параметров быстропротекающих процессов
  • Измерения параметров импульсных электрического и магнитного полей
  • Измерения трехмерных распределений оптических свойств наноразмерных объектов
Оказываемые услуги
  • Поверка средств измерений
  • Калибровка средств измерений
  • Проведение испытаний средств измерений
  • Проведение измерений и исследований на высокоточных оптико-физических СИ
  • Аттестация испытательного оборудования
Основное оборудование

В настоящее время в состав ЦКП входит 60 единиц высокоточных приборов и установок, обеспечивающих единство оптико-физических измерений.

В том числе 15 Государственных эталонов по следующим направлениям:

  • Спектрофотометрия, спектрорадиометрия, в том числе лазерная, радиометрия УФ, колориметрия, денситометрия
  • Параметры волоконно-оптических линий связи (ВОЛС)
  • Параметры импульсных электрического и магнитного полей (СШП ЭМИ)
  • Рефрактометрия и поляриметрия
  • Атомно-спектральные измерения

Размеры единиц передаются вторичным эталонам и высокоточным СИ, обеспечивающим измерения оптико-физических величин.

Более подробную информацию о оборудовании Центра смотрите в соответствующем разделе

Интегрированный мультимедийный учебно-научный комплекс

Интегрированный мультимедийный учебно-научный комплекс, предназначенный для проведения обучения студентов (бакалавров и магистров) высших учебных заведений и персонала предприятий наноиндустрии. Комплекс позволяет проводить измерения фотометрических и цветовых параметров светодиодов для энергосберегающих осветительных модулей на основе наногетероструктур в режиме удаленного доступа или ознакомиться с методикой проведения измерений в режиме симулятора.

Более подробную информацию о комплексе смотрите в соответствующем разделе

Кадры

Персонал ЦКП:

  • Доктора наук 18
  • Кандидаты наук 36
  • Без ученой степени 168

ЦКП тесно сотрудничает с Академией стандартизации, метрологии и сертификации и оказывает услуги по предоставлению доступа слушателям к высокоизмерительному оборудованию.

Методическое обеспечение исследований

Разработанные и аттестованные методики выполнения измерений и стандартные образцы

Перечень мер, входящих в состав оборудования головного отделения

Области аккредитации

Аттестация испытательного оборудования

Публикации

С публикациями ВНИИОФИ можно ознакомиться в соотетствующем разделе.

Международное сотрудничество

Заключено соглашение о сотрудничестве между ЦКП ВНИИОФИ и компанией Carl Zeiss NTS, подписанное с одной стороны директором В.С.Ивановым, с другой стороны главой совета директоров П.Фруштофером.

Существенные достижения и результаты интеллектуальной деятельности

Результаты интеллектуальной деятельности осуществляются в рамках деятельности лабораторий института ВНИИОФИ

Клиенты

Институты и академии наук:

  • Объединённый институт ядерных исследований
  • Институт радиоэлектроники академии наук

Вузы:

  • Физический факультет МГУ
  • Химический факультет МГУ
  • МГТУ им. Баумана
  • Московский государственный областной университет

Государственные и коммерческие предприятия:

  • Метрологический центр Роснано
  • ФГУП «НПЦ газотурбостроения «САЛЮТ»
  • ФГУП «Исследовательский центр имени М. В. Келдыша»
 
 

Услуги

ФГБУ «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Продукция

В соответствии с положениями устава ФГБУ «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГБУ «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | 2009 - 2024 | Написать разработчику |
Яндекс.Метрика