Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных объектов.
Описание

Госреестр № 48171-11

000830-M44-MIA-1M-FOTO-IMG_0054-001

3D-Обзор МИА-1М

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр) Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр)

Состав:

  • Микроскоп МИА-Д - 1 шт.;
  • Блок освещения и управления - 1 шт.;
  • Волоконно-оптический жгут - 1 шт.;
  • Компьютер с монитором (или ноутбук)- 1 шт.;
  • Кабели - 4 шт.;
  • Руководство по эксплуатации - 1 шт.

Пример работы микропрофилометра:

  • Участок поверхности компакт-диска
mia1m_izm2
  • Прямоугольная решетка TGZ3 фирмы NT-MDT (высота профиля – 80 нм, период – 3 мкм)
mia1m_izm

Перейти на страницу примеров работы микропрофилометра

zakazat

Производится под заказ, цена договорная

«МИА-1М предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также показателя преломления жидкости (при использовании специальной кюветы).

Микропрофилометр МИА-1М позволяет исследовать отражающие объекты, состоящие из различных по своим электрическим свойствам материалов (диэлектрик, проводник и пр.) и рассчитывать параметры шероховатости (Ra, Rz, Rmax и пр.). Для расширения диапазона измерения высот профиля поверхности в микроскопе используется метод регистрации на нескольких длинах волн (при использовании специального осветительного блока).

МИА-1М может использоваться в биологии для исследования микробиологических объектов без окрашивания при их размещении на отражающей поверхности.

Области применения

в промышленности:

  • бесконтактное измерение нано и микропрофиля отражающих поверхностей
  • измерение высотных и шаговых параметров шероховатости
  • измерение толщины тонких пленок
  • динамические измерения

в биологии и медицине:

  • возможность исследования живых неокрашенных клеток
  • морфометрия клеток
  • измерение сухого веса клеток с точностью 10-12 г
  • измерение показателя двулучепреломления
  • оценка состояния популяции клеток
  • динамическая фазовая микроскопия

Принцип действия МИА-1М основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от опорного зеркала и поверхности измеряемого изделия. Основой микроскопа является микроинтерферометр Линника МИИ-4М (ЛОМО). Для автоматизации измерений реализован метод дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от компьютера зеркала на пьезоэлементе, встроенного в опорное плечо микроинтерферометра. Интерференционные картины при различных положениях опорного зеркала регистрируются с помощью встроенной цифровой видеокамеры и передаются в персональный компьютер, где производится их обработка в автоматическом режиме. В результате обработки восстанавливается оптическая разность хода, соответствующая измеряемому профилю поверхности.

line168

Контактные данные

8 (800) 350 25 51 доб. 3605
8 (495) 665 52 91

line168

Перейти на страницу примеров работы микропрофилометра

Технические характеристики
 
Поле зрения
- канал 1, мкм
- канал 2, мкм

130 × 175
32 × 44
Диапазон измерения высот, мкм
0,001 ÷ 3 (15*)
Разрешающая способность
- в плоскости XY, мкм
- по оси Z, Å

0,3
0,8
Диапазон измерения показателя преломления
1 ÷ 2
Абсолютная погрешность измерения показателя преломления
1•10-3
Числовая апертура микрообъектива
0,65
Пределы перемещения для фокусировки, мм
3
Увеличение, крат
33,4
Пределы перемещения интерференционной головки по вертикали, мм
± 1,5
Цена деления шкалы барабана микрометрического винта интерференционной головки, мм
0,003
Источники излучения
лазеры
Длина волны, мкм
0,473; 0,532; 0,635; 0,650
Алгоритм реконструкции
метод фазовых шагов
Размерность изображения, пиксель
1392 х 1040
Время измерения и обработки, сек
30
Число обрабатываемых интерференционных картин
9
Электропитание от сети переменного тока
– напряжение питания, В
– частота, Гц

220 ± 22
50 ± 1
Потребляемая мощность, не более Вт
250
Габаритные размеры, мм
340 × 370 × 380
Масса, кг
30
* – при использовании осветительного блока с несколькими длинами волн
 
Все поставляемое оборудование ВНИИОФИ прошло первичную поверку

Услуги

ФГБУ «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Продукция

В соответствии с положениями устава ФГБУ «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГБУ «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | 2009 - 2024 | Написать разработчику |
Яндекс.Метрика