МИА-Д предназначен для измерения профиля поверхности отражающих динамических объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных динамических объектов
Описание

Госреестр № 48172-11

000838-M44-MIA-D-FOTO-IMG_0057-001

3D-Обзор МИА-Д

Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д

Состав:

  • Микроскоп МИА-Д - 1 шт.;
  • Блок освещения и управления - 1 шт.;
  • Волоконно-оптический жгут - 1 шт.;
  • Компьютер с монитором (или ноутбук)- 1 шт.;
  • Кабели - 4 шт.;
  • Руководство по эксплуатации - 1 шт.
Пример работы микропрофилометра:
miad_izm2

Исследование динамики действия ионофора на тучные клетки мыши

miad_izm

Изменение состояния эритроцита при добавлении ИХФАНов

zakazat

Производится под заказ, цена договорная

«Микроскоп предназначен для измерения профиля поверхности отражающих динамических объектов в микро- и нанодиапазоне. Использование высокоскоростной камеры позволяет проводить измерения с частотой 50 Гц.

Микроскоп может использоваться в биологии для исследования динамики микробиологических объектов без окрашивания. Эти объекты должны находится на отражающей поверхности.

Принцип действия микроскопа основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от опорного зеркала и поверхности измеряемого отражающего объекта.

Основой микроскопа является микроинтерферометр Линника (МИИ-4М, ЛОМО). Для автоматизации измерений реализован метод дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от компьютера зеркала на пьезоэлементе, встроенного в опорное плечо микроинтерферометра. Интерференционные картины при различных положениях опорного зеркала регистрируются с помощью встроенной цифровой видеокамеры и передаются в персональный компьютер, где производится их обработка в автоматическом режиме.

В результате обработки восстанавливается оптическая разность хода, соответствующая измеряемому профилю поверхности.

line168

Контактные данные

8 (800) 350 25 51 доб. 3605
8 (495) 665 52 91

line168

Технические характеристики
 
Поле зрения
- канал 1, мкм
- канал 2, мкм

135 × 180
32 × 44
Диапазон измерения высот, мкм
0,001 ÷ 3 (15*)
Разрешающая способность
- в плоскости XY, мкм
- по оси Z (на частоте), Å

0,5
1,3
Диапазон измерения показателя преломления
1 ÷ 2
Абсолютная погрешность измерения показателя преломления
1•10-3
Числовая апертура микрообъектива
0,65
Пределы перемещения для фокусировки, мм
3
Увеличение, крат
33,4
Пределы перемещения интерференционной головки по вертикали, мм
± 1,5
Цена деления шкалы барабана микрометрического винта интерференционной головки, мм
0,003
Источники излучения
лазеры
Длина волны, мкм
0,473; 0,532; 0,635;
Алгоритм реконструкции
метод фазовых шагов
Размерность изображения, пиксель
1392 х 1040
Время измерения и обработки, сек
30
Электропитание от сети переменного тока
– напряжение питания, В
– частота, Гц

220 ± 22
50 ± 1
Потребляемая мощность, не более Вт
250
Габаритные размеры, мм
340 × 370 × 380
Масса, кг
30
* – при использовании осветительного блока с несколькими длинами волн
 
Все поставляемое оборудование ВНИИОФИ прошло первичную поверку

Услуги

ФГБУ «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Продукция

В соответствии с положениями устава ФГБУ «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГБУ «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | 2009 - 2024 | Написать разработчику |
Яндекс.Метрика